温度補正付き絶縁抵抗試験と合否判定
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温度補正:R_ref = R × 2^((T-Tref)/10)。絶縁は10°C上がるごとに約半分に低下。
合格基準:低圧(≤1000V)は≥1MΩ。高圧(>1000V)はkV定格+1 MΩ以上。IEEE 43規格参照。
低圧(≤1000V):≥1MΩ。高圧(>1000V):定格kV+1 MΩ以上。IEEE 43規格による最小値。
絶縁抵抗は温度に敏感。10°C上昇で約半分に低下。測定値を基準温度(通常20°Cまたは40°C)に換算して比較。